偵測極限泛指檢測過程能夠定量的最低待檢物濃度,可以區分為儀器偵測極限(Instrument detection limit, IDL)及方法偵測極限 (Method detection limit, MDL)。二者簡單的定義如下:
1.儀器偵測極限(Instrument detection limit, IDL)
為待測物之最低量或最小濃度,足夠在儀器偵測時,產生一可與空白訊號區別之訊號者。亦即該待測物之量或濃度在99
%之可信度下,可產生大於平均雜訊之標準偏差3倍之訊號。
2.方法偵測極限(Method detection limit, MDL)
指待測物在某一基質中以指定檢測方法所能測得之最低濃度,對此濃度有99%之可信度(Confidence level)。一般檢測報告中所指的低於偵測極限係指方法偵測極限(MDL)而言,測值低於方法偵測極限的檢測數據受到儀器及方法背景值之影響過大,無法採信,常以「ND」或是「< 方法偵測極限值」表示。關於方法偵測極限之定義及其測定方法如需進一步的資料,請參見環境檢驗方法偵測極限測定指引(NIEA-PA107)。